COB 2G(pleomax) 인식불량 복구 불가 사례
제조업체 : PLEOMAX 접수번호 : y20110523h8070 용량 : 2G 구조 : 2G chip 1개로 구성 Chip ID : Unknown(Memory chip 전기적인 불량으로 확인 불가능) 불량현상 : PC USB Port연결시 무반응및 발열 원인 : Controller chip 불량및 Memory chip 불량 작업내용 : 메모리 chip 분리후 Test 결과 Power간 short로 과전류 발생 복구 작업 불가능 원인 : 타업체에서 작업시도 했었으며, 무리하게 인식이 안되는 상황에서 […]
COB 32G(LG X-tick) 인식불량 복구결과
제조업체 :LG X-tick 접수번호:y20110527h1741 메모리용량 : 32G 구조 : 4G chip 8개로 구성 Chip ID : micron 불량현상 : PC USB Port연결시 디스크관리자에서 “미디어없음”현상 원인 : Memory chip 8개중 4개 Cell 일부손상(Bad cell) 작업내용 : 메모리 chip(8개) 분리후 Dump 추출 분석후 복구작업 복구용량 : 25G 복구율 : Total 9487파일(Good:9395 개/ Fail:92개)=>99% 복구기간 : 3일
COB 16G(PLEOMAX) 인식불량 복구결과
제품모델: PLEOMAX 접수번호:y20110528h2785 메모리용량 : 16G 구조 : 4G chip 4개로 구성 Chip ID : micron 불량현상 : PC USB Port연결시 반응 없음 원인 : Controller chip불량 및 Memory bad cell 작업내용 : 메모리 chip(4개) 분리후 Dump 추출 분석후 Bad cell repair 및 복구작업 복구율 : Total7893파일(Good:7890개/ Fail:3개)=>99% 복구기간 :2일 COB 내부 메모리 칩 단면구조(4개)
COB USB 8G(PLEOMAX) 복구 결과
제품모델및 제조: PLEOMAX(삼성) 접수번호:y20110603h7077 메모리용량 : 8G 구조 : 4G chip 2개로 구성 Chip ID : micron 불량현상 : PC USB Port연결시 반응 없음(Data bus pin short) , Bad cell 원인 : Controller chip불량(ESD 또는 Electrical damage로 추정됨) 작업내용 : 메모리 chip(2개) 분리후 Chip Test 및 Dump 추출 분석 Bad cell repair 데이터 복구작업진행 복구율 : Total 1775파일(Good: 1775개/ Fail:0개)=>100% 복구기간 :2일
COB SDHC 메모리 32G(silicon power) 인식불량 복구결과
제조업체 : Silicon Power 모델 : SDHC (Digital camera) 접수번호 : y20110610h2309 용량 : 32G 구조 : 4G chip 8개로 구성 Chip ID : micron 불량현상 : PC USB Port연결시 디스크관리자에서 “미디어없음” 현상 원인 : Bare Memory chip Cell 일부 손상으로 인식이 안됨 작업내용 : 메모리 chip(8개) 분리후 Dump 추출 분석및 Bad cell repair 후 복구작업 복구율 : 98% 복구기간 : 5일
COB USB 4G(Comflash) 복구
제조및판매업체 : Comflash 용량 : 4G 구조 : 4G chip 1개로 구성 Chip ID : samsung 불량현상 : PC USB Port연결시 무반응 원인 : Controller chip 불량 작업내용 : 메모리 chip(1개) 분리후 Dump 추출 분석후 복구작업 해당제품은 Controller chip자체 X-or(dump 암호) 알고리즘이 적용 되어 있어 Dump분석에 다소 기간이 소요되었음 또한 고객이 단자부분에 반복적인 납땜작업으로 열을 가해 메모리 Cell 손상이 가중되어 […]